振幅整合腦電圖（aEEG）在晚期早產(chǎn)兒腦損傷中的應用

隨著(zhù)圍產(chǎn)醫學(xué)和新生兒重癥監護技術(shù)的發(fā)展，早產(chǎn)兒存活率不斷提高，其中25%~50%早產(chǎn)兒可發(fā)生腦損傷[1]，所以腦損傷已成為當前早產(chǎn)兒遺留神經(jīng)系統后遺癥的重要因素之一。如何早期識別腦損傷進(jìn)而判斷其嚴重程度，預測遠期預后，對指導臨床早期積極治療，改善危重早產(chǎn)兒生存質(zhì)量具有重要意義[2]。目前振幅整合腦電圖（amplitude integration electro encephalogram，aEEG）作為一種用腦電信號振幅波來(lái)分析腦電波的方法，已被越來(lái)越多的應用于新生兒重癥監護病房（NICU），成為其日常監護的一部分[3]。近年來(lái)有不少研究表明，同足月新生兒相比，晚期早產(chǎn)兒（胎齡在34~36+6周）具有更高的風(fēng)險，需要醫護人員給予更多的關(guān)注。早產(chǎn)兒因其機體生長(cháng)發(fā)育極易遭受外界因素干擾，將具有較高的神經(jīng)系統發(fā)育異常風(fēng)險，應引起相關(guān)醫護人員注意[4]。本文將對振幅整合腦電圖在晚期早產(chǎn)兒腦損傷的應用價(jià)值進(jìn)行探討分析，報道如下。 1 對象與方法 1.1 對象：選取自2015年10月至2018年3月收住我院的32例出生時(shí)有窒息史（Apgar評分1 min、5 min及10 min有任意一項評分小于8分）的晚期早產(chǎn)兒（病例組）和同期住院的41例出生時(shí)無(wú)窒息史、未診斷腦損傷的晚期早產(chǎn)兒（對照組）作為本次試驗的研究對象，進(jìn)行回顧性分析。其中男42例，女31例；胎齡為34~36周，平均胎齡（35.17±3.07）周；出生時(shí)的體質(zhì)量為1670~3150 g，平均體質(zhì)量（2115.71±274.61）g；其中有56例產(chǎn)兒為陰道分娩，17例產(chǎn)兒為剖宮產(chǎn)；其中有23例為雙胎兒，50例為單胎兒。所有腦損傷早產(chǎn)兒均符合腦損傷判定標準[5]，并排除了合并嚴重黃疸、低血糖、化膿性腦膜炎及神經(jīng)系統先天畸形、伴有遺傳代謝性疾病的患兒。且所有早產(chǎn)兒均在監護人同意知情后進(jìn)行監測。兩組早產(chǎn)兒的胎齡分布、性別比例、出生體質(zhì)量以及生產(chǎn)方式等一般資料無(wú)統計學(xué)意義（P>0.05），具有可比性。見(jiàn)表1。